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申请/专利权人：合肥工业大学智能制造技术研究院
摘要：本发明提供了一种基于机器视觉晶硅粒度质量检测设备，包括：进料传送带和检测传送带；分析设备，所述分析设备包括检测腔、激光粒度分析仪和图像粒度分析仪，所述检测腔位于进料传送带和检测传送带之间，移动至进料传送带末端的物料会穿过检测腔后到达检测传送带的表面，所述激光粒度分析仪的检测口朝向检测腔内下落的物料，所述图像粒度分析仪的图像采集设备指向检测传送带上分布的物料；所述检测传送带的后端还设有分离传输装置。本发明所将激光粒度分析仪和图像粒度分析仪两种不同的方式进行有效结合，提高了晶硅粒度质量检测的准确性，配合分离传输装置增强筛分效果，减少粒度偏差范围。
主权项：1.一种基于机器视觉晶硅粒度质量检测设备，其特征在于，包括：进料传送带和检测传送带，所述进料传送带和检测传送带呈阶梯结构平行布置，进料传送带承接产线上输送过来的物料，并将接收到的物料投放至检测传送带上；分析设备，所述分析设备包括检测腔、激光粒度分析仪和图像粒度分析仪，所述检测腔位于进料传送带和检测传送带之间，移动至进料传送带末端的物料会穿过检测腔后到达检测传送带的表面，所述检测传送带传输速度大于进料传送带输送速度，所述激光粒度分析仪的检测口朝向检测腔内下落的物料，所述图像粒度分析仪的图像采集设备指向检测传送带上分布的物料；所述检测传送带的后端还设有分离传输装置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥工业大学智能制造技术研究院 一种基于机器视觉晶硅粒度质量检测设备
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