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基于TO封装结构的高灵敏度宽光谱APD光检测器 

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申请/专利权人:常州瀚镓半导体有限公司

摘要:本发明涉及光检测器技术领域,尤其涉及基于TO封装结构的高灵敏度宽光谱APD光检测器,包括TO封装结构,所述TO封装结构包括透镜机构和TO底座,所述TO底座内安装有TEC热电制冷器,TEC热电制冷器上设置有TIA跨阻放大器,TIA跨阻放大器的外侧安装有APD光检测芯片,所述TO底座上还设置有滤波电容。本发明通过使用低反射率封装材料和优化光学路径设计,减少光信号的反射和损耗,提高光信号的传输效率;通过外部实时监控和调节APD光检测器的工作温度,确保其在不同环境下的稳定性;外部滤光片和透镜设计提高了特定波长光信号的选择性和聚焦效果;该设计在不改变APD芯片的情况下,显著提升了APD光检测器在宽光谱范围内的灵敏度和稳定性,解决了现有技术中的不足。

主权项:1.基于TO封装结构的高灵敏度宽光谱APD光检测器,其特征在于,包括:TO封装结构,所述TO封装结构包括透镜机构和TO底座(3),所述TO底座(3)内安装有TEC热电制冷器(5),TEC热电制冷器(5)上设置有TIA跨阻放大器(10),TIA跨阻放大器(10)的外侧安装有APD光检测芯片(8),所述TO底座(3)上还设置有滤波电容(6),滤波电容(6)的外侧安装有引脚(4)。

全文数据:

权利要求:

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