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申请/专利权人：山东浪潮华光光电子股份有限公司

摘要：本发明提供一种AlGaInP四元LED芯片生产机台的发光亮度的校准方法，包括步骤：1制作标准样片，用标准机台测试得发光亮度A；2用生产机台测试标准样片得发光亮度B，将发光亮度B与发光亮度A进行均值比较，对生产机台进行Gain值校准；3将生产机台的Gain值设为校正后值，用生产机台测试标准样片得发光亮度C，发光亮度C与发光亮度A一一比对，若发光亮度C与发光亮度A差异率的平均值≤1％，不需校准，若＞1％，则进行下一步；4设生产机台Gain值为1，Offset为0，测试标准样片得发光亮度D，发光亮度D为x轴，发光亮度A为y轴，线性拟合得公式y＝ax+b，a为Gain值，b为Offset值。

主权项：1.一种AlGaInP四元LED芯片生产机台的发光亮度校准方法，包括步骤如下：（1）制作标准样片，使用标准机台对标准样片进行测试得到标准样片中各个晶粒的发光亮度A，并计算发光亮度A的平均值；利用标准机台确定标准样片测试的起始点和点测方向；（2）使用标准样片对生产机台进行发光亮度均值的校准利用生产机台对标准样片进行测试得到标准样片中各个晶粒的发光亮度B，统计筛选并去除测试中的异常点，计算发光亮度B的平均值；将标准样片的发光亮度B的平均值与发光亮度A的平均值进行比较，若标准样片的发光亮度B的平均值与发光亮度A的平均值之间的差异率≤2%，不需要对生产机台进行校准；若标准样片的发光亮度B的平均值与发光亮度A的平均值之间的差异率＞2%，则需按下述过程进行生产机台Gain值的校准：校准过程中，y=标准样片的发光亮度A的平均值，x=标准样片的发光亮度B的平均值，a=生产机台校准前的Gain值，如x＞y，校准后的Gain值（a）=[1-（x-y）y]×a；如x＜y，校准后的Gain值（a）=[1+|（x-y）y|]×a；（3）使用标准样片对生产机台进行发光亮度均值的进一步修正及偏差补偿将生产机台的Gain值设定为步骤（2）中校准后的Gain值（a）后，再次利用生产机台对标准样片进行测试得到标准样片中各个晶粒的发光亮度C，统计筛选并去除测试中的异常点，将标准样片中各个晶粒的发光亮度C与发光亮度A一一对应进行点对点比对，计算每个点的差异率；若发光亮度C与发光亮度A的差异率的平均值≤1%，不需要对生产机台进行进一步的校准；若发光亮度C与发光亮度A的差异率的平均值＞1%，则进行下一步，对生产机台进行进一步的校准；（4）将生产机台发光亮度校准处的Gain值设为1，Offset值设为0，再次利用生产机台对标准样片进行测试，统计筛选并去除测试中的异常点，得到标准样片中各个晶粒的发光亮度D，以标准样片中各个晶粒的发光亮度D数据为x轴，发光亮度A数据为y轴做散点图，进行线性拟合，得到拟合直线以及公式y＝ax+b，则公式中的a为最终校准后的Gain值，b为Offset值，完成校准。

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