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申请/专利权人：扬州宇安电子科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种自适应测量雷达扫描周期的方法、雷达侦察装置和设备，所述方法包括步骤：收集预设时长的脉冲幅度信号即PA信号，构成PA序列；对所述PA序列进行脉冲重复间隔PRI分析，确定采样率；使用所述采样率对收集的PA序列进行重采样；计算重采样序列的归一化自相关系数；搜寻自相关系数序列的第一个非零的极大值及其在自相关系数序列中的序号；根据所述序号和采样率，计算得到雷达的扫描周期。本发明通过接收到的信号幅度值，使用自相关系数的方法计算扫描周期，准确率高，稳定性好。

主权项：1.一种自适应测量雷达扫描周期的方法，其特征在于，包括步骤：S1、收集预设时长的脉冲幅度信号即PA信号，构成PA序列，所述PA信号通过对接收到的雷达信号采样获得；S2、对所述PA序列进行脉冲重复间隔PRI分析，确定采样率TP；S3、使用所述采样率TP对收集的PA序列进行重采样，得到重采样序列{x}；S4、计算所述重采样序列{x}的归一化自相关系数，得到自相关系数序列{rxx}；S5、搜寻自相关系数序列{rxx}的第一个非零的极大值，第一非零的极大值在自相关系数序列{rxx}中的序号为ld；S6、根据所述序号ld和所述采样率TP，计算得到雷达的扫描周期TA；所述方法执行如下步骤S0至S0″′，确定雷达的扫描周期：S0、判断侦察窗是否打开，若已打开，则进入步骤S0′，否则等待侦察窗打开；S0′、加载小周期的相关参数，包括第一开始时间参数winstart′、第一结束时间参数winend′、第一窗长W′，winstart′winend′；顺序执行步骤S2至S6，且在执行步骤S6时，判断计算得到的扫描周期TA是否在设置的[winstart′,winend′]范围内，若是，则说明计算得到的扫描周期TA正确，结束流程，若不是，则进入步骤S0″；S0″、加载中周期的相关参数，包括第二开始时间参数winstart″、第二结束时间参数winend″、第二窗长W″，winstart″winend″；顺序执行步骤S2至S6，且在执行步骤S6时，判断计算得到的扫描周期TA是否在设置的[winstart″,winend″]范围内，若是，则说明计算得到的扫描周期TA正确，结束流程，若不是，则进入步骤S0″′；S0″′、加载大周期的相关参数，包括第三开始时间参数winstart″′、第三结束时间参数winend″′、第三窗长W″，winstart″′winend″′；顺序执行步骤S2至S6，且在执行步骤S6时，判断计算得到的扫描周期TA是否在设置的[winstart″′,winend″′]范围内，若是，则说明计算得到的扫描周期TA正确，结束流程，若不是，则返回步骤S0′，重新循环；或者，执行如下步骤S00至S00″，确定雷达的扫描周期：S00、判断侦察窗是否打开，若已打开，则进入步骤S00′，否则等待侦察窗打开；S00′、判断扫描周期模式，选择预先设置的一个模式，即：小周期模式、中周期模式和大周期模式，进入步骤S00″；S00″，加载所选模式的相关参数，包括开始时间参数winstart、结束时间参数winend、窗长W，winstartwinend；顺序执行步骤S2至S6，且在执行步骤S6时，判断计算得到的扫描周期TA是否在设置的[winstart,winend]范围内，若是，则说明计算得到的扫描周期TA正确，结束流程，若不是，则返回步骤S00，重新循环。

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