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一种闪存可靠性验证实验装置 

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申请/专利权人:西安交通大学

摘要:本实用新型公开了一种闪存可靠性验证实验装置,属于电子设计技术领域。包括:FPGA开发板,通过MicroUSB与FPGA开发板电连接的主机端,通过VHDCI线与FPGA开发板电连接的闪存PCB子板,以及通过管脚与闪存PCB子板电连接的被测闪存颗粒;闪存PCB子板上焊接有NAND闪存芯片;NAND闪存芯片连接有若干引脚。FPGA开发板用于实现对非易失性存储器的控制,通过串口通信获取并执行从主机端接收到的命令,并将对应指令通过VHDCI线传送至闪存PCB子板;VHDCI连接线保证了数据传输的速度与稳定性;闪存PCB子板按照对应引脚,将控制信号与数据信号传输至被测闪存颗粒中,驱动其进行擦除、读写等操作。本实用新型简化了测试流程,提高了测试效率,有效验证了闪存的可靠性。

主权项:1.一种闪存可靠性验证实验装置,其特征在于,包括:FPGA开发板,通过MicroUSB与FPGA开发板电连接的主机端,通过VHDCI线与FPGA开发板电连接的闪存PCB子板,以及通过管脚与闪存PCB子板电连接的被测闪存颗粒;所述闪存PCB子板上焊接有NAND闪存芯片;所述NAND闪存芯片连接有若干引脚。

全文数据:

权利要求:

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