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申请/专利权人：京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
摘要：本申请公开了一种寿命测试器件以及寿命测试器件的制造方法，属于显示技术领域。所述寿命测试器件包括：衬底、阳极、有机材料层以及阴极；阳极位于衬底上，阳极远离衬底的一面具有多个第一凹凸结构，第一凹凸结构包括凹陷结构以及凸起结构中的至少一种；有机材料层至少部分位于阳极上；阴极位于有机材料层远离阳极的一侧，且阴极的至少部分位于有机材料层上。其中，阳极与有机材料层接触的表面为粗糙的表面，提升了阳极和有机材料层之间的接触面积。该接触面积越大，则有机材料层的亮度持续极速衰减的可能性越小，如此在对有机材料层的测试的过程中，便能够降低有机材料层的亮度持续极速衰减的情况发生的可能性，提升了寿命测试器件的准确性。
主权项：1.一种寿命测试器件，其特征在于，所述寿命测试器件包括：衬底以及在所述衬底上沿远离所述衬底的方向依次排布的阳极、有机材料层以及阴极；所述阳极远离所述衬底的一面与所述有机材料层接触，且所述阳极远离所述衬底的一面中与所述有机材料层接触的区域具有多个第一凹凸结构；所述阴极与所述有机材料层接触。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 京东方科技集团股份有限公司 成都京东方光电科技有限公司 寿命测试器件以及寿命测试器件的制造方法
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