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申请/专利权人：欧姆龙株式会社
摘要：本发明提供可简单地对用以判别有无缺陷的判定用参数进行设定的缺陷检查装置、缺陷检查方法及存储介质。缺陷检查装置包括：获取部；图像生成部，通过对检查图像适用进行了事先学习的已学习识别器，而生成一个以上的特征提取图像；检查部，基于用以判定检查对象物中有无检测对象部位的一个以上的判定用参数及以特征提取图像而生成的二值化图像来确定与缺陷对应的区域；以及设定部，在基于已事先学习的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，当与特征对应的学习用的图像数据的数未满阈值时，以来自用户的事后调整为前提而临时设定判定用参数，在基于已事先学习的特征以外的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，根据来自用户的指定来设定判定用参数。
主权项：1.一种缺陷检查装置，包括：获取部，获取检查对象物的检查图像；图像生成部，通过对所述检查图像适用以使用学习用的图像数据提取一个以上的特征的方式进行了事先学习的已学习识别器，而生成一个以上的特征提取图像；检查部，基于用以判定所述检查对象物中有无缺陷的一个以上的判定用参数及以所述特征提取图像而生成的二值化图像来确定与缺陷对应的区域；以及设定部，在基于已事先学习的所述特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，当与所述特征对应的学习用的图像数据的数未满阈值时，以半自动模式设定所述判定用参数，其中，在所述半自动模式中，所述设定部以来自用户的事后调整为前提而临时设定所述判定用参数，并将所述判定用参数输出至所述检查部；所述检查部从在所述二值化图像中提取相同颜色连接成的像素块的第1特征区域中，提取与临时设定的所述判定用参数一致的与缺陷对应的区域作为第2特征区域，而产生设定用图像；所述设定部将所述设定用图像显示至用户接口画面，并通过所述用户接口画面受理所述设定用图像中第3特征区域的选择，基于所述第3特征区域对所述判定用参数进行再设定。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 欧姆龙株式会社 缺陷检查装置、缺陷检查方法及存储介质
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