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申请/专利权人：上海师范大学

摘要：本发明涉及一种正入射式反射光相位信息表征光路系统及方法，光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括激光器、起偏器、偏振分束器、第一14波片、第一样品台、第二14波片、第二样品台、第三14波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过偏振分束器后分为光路a与光路b，分别经过14波片与样品平台后反射，之后两束光从新汇聚于偏振分束器。本光路系统可同时测量样品反射光的强度信息和相位信息，即可获取反射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。

主权项：1.一种正入射式反射光相位信息表征光路系统，其特征在于，包括：光源发射器，用于发射光源；起偏器2，用于将所述光源发射器发射的光源形成偏振光；偏振分束器3，用于将所述偏振光分成两束光路：光路a与光路b；第一样品台5，设于所述光路a中，用于放置被测样品，所述第一样品台5与所述偏振分束器3之间设有第一14波片4；第二样品台7，设于所述光路b中，用于放置标准样件，所述第二样品台7与所述偏振分束器3之间设有第二14波片6；及反射光检测单元，使携带样品信息的测试反射光和参考反射光发生相干干涉，并通过探测光谱强度计算被测样品的相位信息；所述反射光检测单元包括依次设置的探测器11、衰减器10、检偏器9以及第三14波片8，所述光路a中被测样品的反射光以及所述光路b中标准样件的反射光经过所述偏振分束器3汇聚，汇聚后的两束光同时出射并依次经过所述第三14波片8及检偏器9，所述第三14波片8与检偏器9对光进行调制，之后再经过所述衰减器10，进入所述探测器11；一种正入射式反射光相位信息表征方法，采用所述光路系统进行测试，具体包括以下步骤：步骤1：背景测试，第一样品台5与第二样品台7同时放入标准样件，改变反射光检测单元中检偏器9的方位角，并测试对应的光强；步骤2：被测样品反射光测试，在第一样品台5上放置被测样品，第二样品台7仍放置标准样件，改变反射光检测单元中检偏器的方位角，并测试对应的光强；步骤3：计算被测样品的反射引起的光谱变化，其具体为步骤2测得的光强与步骤1测得光强的差值；步骤4：计算被测样品反射引起的相位变化；步骤1中所述检偏器9方位角分别为0度、45度、90度、135度时，测试对应的光强：I00、I01、I02、I03；步骤2中所述检偏器9方位角分别为0度、45度、90度、135度时测试对应的光强：I10、I11、I12、I13；步骤3中计算被测样品的反射引起的光谱变化I为：I0＝I10-I00，I1＝I11-I01，I2＝I12-I02，I3＝I13-I03；步骤4中计算被测样品反射引起的相位变化为：

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