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申请/专利权人：天津大学
摘要：本发明公开了一种全迹线断面粗糙度表征方法及系统，涉及岩体结构面领域，包括扫描样本材料断裂面，获取断面的表面点云数据；根据表面点云数据，提取断面二维迹线；分别计算各二维迹线的二维粗糙度，并利用各二维粗糙度，计算断面三维粗糙度。本发明既能消除因缺陷导致的各轮廓线离散性太大的问题，也能对全断面的裂纹发育路径进行提取和量化，实现了传统的二维迹线粗糙度表征方法向三维的过渡，可以较好地了解裂纹的发育路径，方便工程中为裂纹修复等工作提供实施依据。
主权项：1.一种全迹线断面粗糙度表征方法，其特征在于，具体步骤如下：扫描样本材料断裂面，获取断面的表面点云数据；根据所述表面点云数据，提取断面二维迹线；分别计算各二维迹线的二维粗糙度，并利用各所述二维粗糙度，计算断面三维粗糙度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天津大学 一种全迹线断面粗糙度表征方法及系统
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