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双晶圆刻蚀设备 

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申请/专利权人:无锡邑文微电子科技股份有限公司;江苏邑文微电子科技有限公司

摘要:本发明涉及晶圆加工技术领域,具体公开了一种双晶圆刻蚀设备,该双晶圆刻蚀设备中,腔体具有工艺腔和连通工艺腔的连通孔;两个气体发生机构沿长度方向间隔设置,气体发生机构包括屏蔽罩和设于屏蔽罩内部的石英筒和进气盘,进气盘上设有上冷却盘,石英筒的下端开口和连通孔连通,石英筒内部具有线圈,从进气盘流出的气体经由线圈能形成等离子体,并能通过连通孔进入工艺腔;检测组件设置于两个屏蔽罩沿长度方向相背的两个侧壁上;第一冷却组件包括冷却风扇,冷却风扇设置于屏蔽罩的沿宽度方向的侧壁上;第二冷却组件包括冷却通道,腔体的侧壁内部和冷却盘的内部均设有冷却通道。上述设置有助于提高降温面积,改善降温效果。

主权项:1.双晶圆刻蚀设备,其特征在于,包括:腔体(100),所述腔体(100)具有工艺腔(110)和连通所述工艺腔(110)的连通孔(133);两个气体发生机构(200),沿长度方向间隔设置,所述气体发生机构(200)包括屏蔽罩(210)和设于所述屏蔽罩(210)内部的石英筒(220)和进气盘(230),所述进气盘(230)上设有上冷却盘(231),所述石英筒(220)的下端开口和所述连通孔(133)连通,所述石英筒(220)内部具有线圈(221),从所述进气盘(230)流出的气体经由所述线圈(221)能形成等离子体,并能通过所述连通孔(133)进入所述工艺腔(110);检测组件设置于两个屏蔽罩(210)沿长度方向相背的两个侧壁上;第一冷却组件,包括冷却风扇(300),所述冷却风扇(300)设置于屏蔽罩(210)的沿宽度方向的侧壁上;第二冷却组件,包括冷却通道(400),所述腔体(100)的侧壁内部和所述冷却盘(231)的内部均设有所述冷却通道(400)。

全文数据:

权利要求:

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