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一种激光制导半实物仿真系统精确标定方法 

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申请/专利权人:西安现代控制技术研究所

摘要:本发明公开了一种激光制导半实物仿真系统精确标定方法,能够对激光探测器进行能量阈值、视场范围及盲区的精确标定,使用该方法标定的半实物仿真系统用于激光制导系统控制模型验证。本发明方法消除了系统集成带来的误差,解决了以往仿真试验时将系统误差引入控制模型中导致不能逼真模拟外场实际结果的问题。使用该方法标定的半实物仿真系统由光学暗室、三轴转台、漫反射屏、激光目标模拟器、总控制台等设备组成,其构建了标准的测试与仿真模型环境,适用于多类型部件的测试与仿真需求。本发明方法标定的系统在开展半实物仿真试验时更接近于激光制导的实际工作过程,具有更高的仿真置信度。该方法设计可靠、有效、实用,具有很好的推广应用空间。

主权项:1.一种激光制导半实物仿真系统精确标定方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:构建仿真系统,包括光学暗室、三轴转台、漫反射屏、激光目标模拟器和总控制台;步骤2:程控一体化集成激光器设计;程控一体化集成激光器用于产生额定波长、额定脉宽和特定编码的目标激光,并在探测器测试计算机和步进电机控制器的控制下实现激光能量连续变化,用来模拟激光探测器入瞳处的激光目标能量特性;程控一体化集成激光器包括激光器、制冷系统、固定衰减系统、可变衰减系统、光束准直系统、编码脉冲激光电源;步骤3:漫反射屏设计;为了产生漫反射激光,需要一个漫反射屏幕作为反射体,在使用时事先标定其竖直度和光学特性,同时在确定漫反射屏的放置位置时考虑探测器入射激光的不平行度要求;步骤4:三轴转台设计;所述三轴转台是系统的基准,是激光探测器的支架和轴向精密调整的基础;设计三轴转台的因素如下:1位置精度:三轴位置控制精度均1′;2电磁干扰特性:采用框架式转台,手动控制方式;步骤5:探测器测试计算机系统设计;探测器测试计算机系统集成在总控制台系统内,用于提高探测器性能指标测试的自动化程度,同时便于对激光器能量衰减进行精确控制;包括工业控制计算机系统、AD板和打印机;其中在探测器性能测试时采用AD采集探测器输出信号;在能量控制时,通过串行口与步进电机控制器通讯,完成可变衰减系统的精密光学旋转台的控制;步骤6:光学暗室设计;光学暗室用于消除激光的多次散射;将激光器系统和探测器分别置于暗室中,激光沿45°方向入射漫反射屏中心;步骤7:系统软件设计;系统软件具有激光能量控制、探测器阈值标定、探测器盲区标定、探测器视场范围标定、历史数据记录及报表生成功能。

全文数据:

权利要求:

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