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一种自动化开路测试系统 

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申请/专利权人:成都泽耀科技有限公司

摘要:本实用新型属于测试电路技术领域,公开了一种自动化开路测试系统,用于对具有若干GPIO端口的DUT进行开路检测,包括测试电路板和测试工装,通过测试电路板连接外部电源,通过测试工装连接DUT;测试电路板上设有若干测试模块,每个测试模块具有若干连接DUT的GPIO端口的测试支路,所述测试支路上具有由MCU控制开闭的第四开关,测试时每个测试模块内任一第四开关闭合。

主权项:1.一种自动化开路测试系统,用于对具有若干GPIO端口的DUT进行开路检测,其特征在于:包括测试电路板和测试工装,通过测试电路板连接外部电源,通过测试工装连接DUT;测试电路板上设有若干测试模块,每个测试模块具有若干连接DUT的GPIO端口的测试支路,所述测试支路上具有由MCU控制开闭的第四开关,测试时每个测试模块内任一第四开关闭合;所述测试支路包括切换开关和由切换开关控制的第一测试路和第二测试路;其中,第一测试路一端从MCU起始,然后从DUT的接地端口进入,从DUT的GPIO端口出后连接切换开关,由切换开关接地形成回路;第二测试路一端从MCU起始,依次连接切换开关、第四开关和DUT的GPIO端口,然后从DUT的接电源端口接地形成回路;所述第一测试路包括第一开关,第二测试路包括第二开关,所述第一开关与第二开关互斥,第一开关与切换开关连接第一测试路位置联动闭合,第二开关与切换开关连接第二测试路位置联动闭合。

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权利要求:

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