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继电器自动化测试装置 

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申请/专利权人:杭州长川科技股份有限公司

摘要:本申请涉及继电器领域,特别是涉及一种继电器自动化测试装置,装置包括:信号输入模块、信号输出模块、信号测量模块以及主控模块;信号输入模块与待测继电器输入侧连接,用于输出对应的测试信号至待测继电器;信号输出模块与待测继电器输出侧连接,以构成待测继电器输出侧的负载通路或漏电流通路;信号测量模块与待测继电器连接,用于测量得到待测继电器的响应信号;主控模块与信号输入模块和信号测量模块连接,用于根据待测继电器的待测参数的类型,控制信号输入模块输出对应的测试信号,并基于响应信号,得到待测继电器的对应类型的待测参数的测量结果。本申请能够实现继电器的多种参数的测量。

主权项:1.一种继电器自动化测试装置,其特征在于,包括:信号输入模块、信号输出模块、信号测量模块以及主控模块;所述信号输入模块与待测继电器输入侧连接,用于输出对应的测试信号至所述待测继电器;所述信号输出模块与所述待测继电器输出侧连接,以构成所述待测继电器输出侧的负载通路或漏电流通路;所述信号测量模块与所述待测继电器连接,用于测量得到所述待测继电器的响应信号;所述主控模块与所述信号输入模块和所述信号测量模块连接,用于根据所述待测继电器的待测参数的类型,控制所述信号输入模块输出对应的测试信号,并基于所述响应信号,得到所述待测继电器的对应类型的待测参数的测量结果。

全文数据:

权利要求:

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