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充放电法测试电容电路和方法 

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申请/专利权人:深圳悦和精密技术有限公司

摘要:本发明公开了一种充放电法测试电容电路和方法,测试电容电路包括第一支路、第二支路、固有电阻、第三支路、第四支路和采样处理装置;第一支路包括串联的第一开关和第一标准电阻;第二支路包括串联的第二开关和第二标准电阻;第一支路和第二支路的一端都接收电源电压,另一端都与固有电阻的第一端相连;第一标准电阻和第二标准电阻的阻值不同;第三支路包括串联的第三开关和测试电容;第四支路包括杂散电容;第三支路和第四支路的一端都与固有电阻的第二端相连,还与采样处理装置相连,另一端都接地。本发明通过获取不同支路连接下的充电电容的充电时间,可得到测试电容的更精确的电容值,实现宽范围和精度高的电容测试。

主权项:1.一种充放电法测试电容电路,其特征在于,包括第一支路、第二支路、固有电阻、第三支路、第四支路和采样处理装置;所述第一支路包括串联的第一开关和第一标准电阻;所述第二支路包括串联的第二开关和第二标准电阻;所述第一支路的一端和所述第二支路的一端都接收电源电压,所述第一支路的另一端和所述第二支路的另一端都与所述固有电阻的第一端相连;其中,所述第一标准电阻和所述第二标准电阻的阻值不同;所述第三支路包括串联的第三开关和测试电容;所述第四支路包括杂散电容;所述第三支路的一端和所述第四支路的一端都与所述固有电阻的第二端相连,还与所述采样处理装置相连,所述第三支路的另一端和所述第四支路的另一端都接地。

全文数据:

权利要求:

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