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申请/专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
摘要：本揭露提供一种用于测试与修复内存组件的方法。内存组件包括内存阵列，其包括沿着胞元行与胞元列排列的数据胞元以及参考胞元。数据胞元经配置以储存数据，而参考胞元经配置以产生用于读取储存于数据胞元中的数据的参考电流。上述方法包括：进行行修复，以测试各胞元行中的参考胞元，且以包括额外数据胞元与额外参考胞元的备用胞元行来置换胞元行中含有至少一缺陷参考胞元的一胞元行；以及进行局部参考电流调整，以调整胞元行中的至少一者的写入有低电阻态的参考胞元数量对于写入有高电阻态的参考胞元数量的比值。
主权项：1.一种用于测试与修复内存组件的方法，其中所述内存组件包括内存阵列，所述内存阵列包括沿着胞元行与胞元列排列的数据胞元以及参考胞元，所述数据胞元经配置以储存数据，所述参考胞元经配置以产生用于读取储存于所述数据胞元中的数据的参考电流，且所述方法包括：进行行修复，以测试各胞元行中的所述参考胞元，且以包括额外数据胞元与额外参考胞元的备用胞元行来置换所述胞元行中含有至少一缺陷参考胞元的一胞元行；以及进行局部参考电流调整，以调整所述胞元行中的至少一者的写入有低电阻态的参考胞元数量对于写入有高电阻态的参考胞元数量的比值。
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权利要求：
百度查询： 台湾积体电路制造股份有限公司 用于测试与修复内存组件的方法
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