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申请/专利权人:长沙驰芯半导体科技有限公司
摘要:本发明提供一种适用于超宽带SOC芯片的自检系统,包括:被检测模块、控制模块和执行模块,所述控制模块用于控制所述执行模块检测所述被检测模块的电压;所述被检测模块包括所述SOC芯片的模拟和射频部分的关键DC节点,所述控制模块运行在核心微控制器上,所述执行模块包括开关阵列组和GPADC;所述开关阵列组用于选择所述关键DC节点以对其进行电压检测,所述开关阵列组包括第一开关阵列和第二开关阵列;所述GPADC用于将DC电压转化为数字信号并上传到存储器。本发明提供的适用于超宽带SOC芯片的自检系统,在系统指标出现偏移的情况下,能够快速判断是由哪一个子系统偏移造成的。
主权项:1.一种适用于超宽带SOC芯片的自检系统,其特征在于,包括:被检测模块、控制模块和执行模块,所述控制模块用于控制所述执行模块检测所述被检测模块的电压;所述被检测模块包括所述SOC芯片的模拟和射频部分的关键DC节点,所述控制模块运行在核心微控制器上,所述执行模块包括开关阵列组和GPADC;所述开关阵列组用于选择所述关键DC节点以对其进行电压检测,所述开关阵列组包括第一开关阵列和第二开关阵列;所述GPADC用于将DC电压转化为数字信号并上传到存储器;所述关键DC节点通过所述第一开关阵列与测试引脚进行连接,所述第一开关阵列由第一控制信号控制,所述第一控制信号每次控制所述第一开关阵列中的一个开关闭合,所述第一控制信号为七位控制信号;所述GPADC通过所述第二开关阵列与测试引脚进行连接,所述第二开关阵列由第二控制信号控制,所述第二控制信号为四位控制信号;当所述第一开关阵列切换连接内部电压节点和所述测试引脚且所述第二开关阵列连接所述GPADC和所述测试引脚时,所述测试引脚悬空,实现测试内部DC节点和内部温度传感器之间的电压;当所述第一开关阵列切换连接内部电压节点和所述测试引脚且所述第二开关阵列断开所述GPADC和所述测试引脚时,所述测试引脚连接外部电压表,实现所述外部电压表逐一测量所述关键DC节点的电压;当所述第一开关阵列全部断开且述第二开关阵列连接所述GPADC和所述测试引脚时,所述测试引脚外部接被测电压,实现测量外部传感器的模拟电压;当所述第一开关阵列连接内部电流源和所述测试引脚且所述第二开关阵列断开所述GPADC和所述测试引脚时,所述测试引脚外部接一个温敏电阻,通过所述温敏电阻实现外部温度测量。
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权利要求:
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