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申请/专利权人：上海威固信息技术股份有限公司
摘要：本发明提供了一种芯片加电温湿度试验系统及试验方法，其中试验系统包括：上位机，上位机中安装有监控软件；测试载板和温湿度试验箱，测试载板放置在温湿度试验箱内，测试载板用于安装待测芯片；芯片温度监测装置，用于监测待测芯片的温度，并将监测到的温度实时发送至上位机；电源，与测试载板和上位机连接，用于通过监控软件的控制为待测芯片上电；通过控制电源上下电和监控软件实时监测待测芯片温度的变化，根据达到芯片温度的上下限值时间点多次调整电源的上、下电时间阈，获得最终的电源的上、下电时间阈；测试软件基于最终的电源的上、下电时间阈控制电源的上下电，进行芯片的加电温湿度试验。
主权项：1.一种芯片加电温湿度试验系统，其特征在于，包括：上位机，所述上位机中安装有监控软件；测试载板和温湿度试验箱，所述测试载板放置在所述温湿度试验箱内，所述测试载板用于安装待测芯片；芯片温度监测装置，用于监测所述待测芯片的温度，并将监测到的温度实时发送至所述上位机；电源，与所述测试载板和所述上位机连接，用于通过所述监控软件的控制为所述待测芯片上电；通过控制所述电源上下电和所述监控软件实时监测待测芯片温度的变化，根据达到芯片温度的上下限值时间点多次调整电源的上、下电时间阈，获得最终的电源的上、下电时间阈；所述测试软件基于所述最终的电源的上、下电时间阈控制所述电源的上下电，进行芯片的加电温湿度试验。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海威固信息技术股份有限公司 一种芯片加电温湿度试验系统及试验方法
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