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一种基于芯片性能的电压控制方法和电压频率检测电路 

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申请/专利权人:广州壁仞集成电路有限公司

摘要:本申请涉及一种基于芯片性能的电压控制方法,包括:基于静态时序分析获取每个芯片的关键路径;建立电压‑频率检测电路,基于电压‑频率检测电路获取每个芯片的电压频率对应表;将电压频率对应表固化至对应的芯片中;基于电压频率对应表为每个芯片分配工作电压。本申请提供了一种基于芯片性能的电压控制方法,在集成电路的产线设计阶段,通过电压频率电路为集成电路上的每个芯片建立电压频率函数,并将该电压频率函数固化至每个芯片中,则在集成电路的实际工作环境中,可基于每个芯片的电压频率函数为每个芯片单独地分配工作电压,以使得每个芯片都能够依据其自身的工作性能、以最低的工作电压实现最大的工作频率,从而同时实现高性能和低功耗。

主权项:1.一种基于芯片性能的电压控制方法,其特征在于,包括:基于静态时序分析获取一个芯片的多个关键路径;基于所述关键路径获取所述每个芯片的电压频率函数;将所述电压频率函数固化至所述芯片中;基于所述电压频率函数为所述芯片分配工作电压;其中,基于电压-频率检测电路获取所述每个芯片的电压频率函数,所述电压-频率检测电路包括:寄存器单元,延迟时序链单元、和计数器单元,所述寄存器单元输出的时序信号传输至所述延迟时序链单元,所述延迟时序链单元输出的电平信号经由所述计数器单元计数,以获得频率信号;所述延迟时序链单元包括将所述关键路径复制形成的延迟时序链路径。

全文数据:

权利要求:

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