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申请/专利权人：比科奇微电子(杭州)有限公司
摘要：提供一种March算法故障覆盖率的自动测试方法，可以应用于存储器内自建测试电路设计领域，包括：获取待测存储器的故障原语和待分析的March算法；基于March算法，利用存储器故障模型和March算法模型，创建故障原语对应的TC对象和March算法对应的March对象；通过March算法模型和存储器故障模型分析故障原语的故障检测信息，获得故障原语对应的敏化序列和检测序列在March算法中的索引；以及统计并输出March算法的故障覆盖率分析结果。因此，本公开通过存储器故障模型和March算法模型，实现March算法故障覆盖率的自动化分析，实现故障覆盖率分析与存储器的解耦，提高MBIST电路的设计效率。此外，还提供一种March算法故障覆盖率的自动测试装置。
主权项：1.一种March算法故障覆盖率的自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测存储器的故障原语和待分析的March算法；其中，所述故障原语的数量不少于1；基于所述March算法，利用存储器故障模型和March算法模型，创建所述故障原语对应的TC对象和所述March算法对应的March对象；根据所述March对象和所述TC对象，通过所述March算法模型分析所述故障原语的故障检测信息，获得所述故障原语对应的敏化序列和检测序列在所述March算法中的索引；以及统计所述故障原语对应的所述敏化序列和所述检测序列在所述March算法中的索引，输出所述March算法的故障覆盖率分析结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 比科奇微电子(杭州)有限公司 March算法故障覆盖率的自动测试方法及装置
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