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申请/专利权人:电子科技大学
摘要:本发明公开了一种套管壁厚损伤定量评价方法,包括:按照固定的周向分辨率和轴向分辨率测量波形计算套管内介质超声传播速度;对测量波形进行预处理,确定超声仪器的声源函数;使用测量波形和声源函数进行计算,将声源函数数据进行移位,与波形数据对应相乘求和,得到波形和声源函数的互相关结果;对互相关结果求包络并进行低通滤波,定位接收波形中可能出现的两种反射波的最大波峰值和次大波峰值,计算两峰值对应到时差;根据两波峰到时差和超声在套管介质中传播速度,计算损伤厚度。本方案克服了常规壁厚计算方法在套管严重损伤下壁厚计算失真问题,在套管严重损伤情况下评价结果仍然准确。
主权项:1.一种套管壁厚损伤定量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:安装超声测量仪器发射超声波脉冲,在测量过程中,超声测量仪器中心轴沿着套管方向上升,按照固定的周向分辨率和轴向分辨率测量波形Wave;步骤S2:计算套管内介质超声传播速度V;步骤S3:对测量波形Wave进行预处理,确定超声仪器的声源函数Source;步骤S4:使用测量波形Wave和声源函数Source进行计算,将声源函数Source数据进行移位,与波形数据对应相乘求和,得到波形Wave和声源函数Source的互相关结果CorreWave;步骤S5:对互相关结果CorreWave求包络并进行低通滤波,定位接收波形中可能出现的两种反射波的最大波峰值Peak1和次大波峰值Peak2,计算两峰值对应到时差DeltaTime;步骤S6:根据两波峰到时差DeltaTime和超声在套管介质中传播速度V,计算损伤厚度Thick,计算式为:Thick=DeltaTime×V。
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权利要求:
百度查询: 电子科技大学 一种套管壁厚损伤定量评价方法
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