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申请/专利权人:光梓信息科技(上海)有限公司
摘要:本申请提供一种基于全数字域的片上自测试系统及方法,所述基于全数字域的片上自测试系统配置于包含至少一个模数转换器和至少一个数模转换器的片上系统芯片中,基于全数字域的片上自测试系统包括:控制器、数字向量生成器、选通加法器以及码存储器;控制器分别与数字向量生成器、选通加法器、码存储器电性连接;通过集成全数字域的内建自测试系统,片上系统芯片可以在内部生成测试信号,并通过内置的数字逻辑对响应信号进行分析,从而实现对ADC、DAC动态特性的精确测试,测试精度高,无需中断系统操作或连接外部设备,显著降低了测试成本,可以在整个芯片生命周期进行性能监控,避免了复杂的模拟测试电路设计,减少了自测试系统占用的芯片面积。
主权项:1.一种基于全数字域的片上自测试系统,其特征在于,配置于包含至少一个模数转换器和至少一个数模转换器的片上系统芯片中,所述基于全数字域的片上自测试系统包括:控制器、数字向量生成器、选通加法器以及码存储器;所述控制器分别与所述数字向量生成器、选通加法器、码存储器电性连接;在对所述模数转换器和所述数模转换器进行动态特性测试时,所述控制器控制所述数字向量生成器生成第一数字码流,并控制所述第一数字码流分别进入各个所述数模转换器,各个所述数模转换器分别将接收到的第一数字码流转换成对应的第一模拟信号并输出;所述选通加法器控制各个所述数模转换器输出的第一模拟信号分别进入各个所述模数转换器,各个所述模数转换器分别将接收到的第一模拟信号转换成对应的第一数字信号并输出,由所述控制器控制进入所述码存储器中进行存储;所述控制器控制所述数字向量生成器生成第二数字码流,并控制所述第二数字码流分别进入各个所述数模转换器,各个所述数模转换器分别将接收到的第二数字码流转换成对应的第二模拟信号并输出;所述选通加法器控制各个所述数模转换器输出的第二模拟信号分别进入各个所述模数转换器,各个所述模数转换器分别将接收到的第二模拟信号转换成对应的第二数字信号并输出,由所述控制器控制进入所述码存储器中进行存储;所述控制器对所述码存储器中存储的各个所述模数转换器输出的第一数字信号以及各个所述模数转换器输出的第二数字信号分别进行计算分析,得到各个模数转换器所对应的动态特性指标值、各个数模转换器所对应的动态特性指标值,并将所述动态特性指标值与预置的规格值进行比较,以输出测试结果。
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权利要求:
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