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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明属于相控阵天线通道校准技术领域，具体为一种相位检测装置、相位自校准方法及相控阵单片集成电路。相位检测装置包括第一分频器、第二分频器、第一混频器、第二混频器、N位计数器和N位边沿触发器，其中，第二混频器输出信号S5的相位是由被检测输入信号S4的相位决定，而信号S5的相位决定N位边沿触发器的时延tp，时延tp决定N位边沿触发器的输出信号S7的输出结果，故相位检测装置的输出信号S7能够用来表征被检测输入信号S4的相对相位,基于此相对相位便可实现对射频通道进行相位高精度检测和自校准。与现有技术相比，本发明的装置及方法更加简单，检测精度也更高。
主权项：1.一种相位检测装置，其特征在于，包括：第一分频器，其分频比为M，用于接收射频输入端提供的信号S0，并对输入信号S0进行分频得到信号S1，信号S1的频率为f1=f0M，其中，f0为输入信号S0的频率；第二分频器，其分频比为2N，用于接收第一分频器提供的信号S1，并对信号S1进行分频得到信号S2,信号S2的频率为f2=f12N=f0M*2N；第一混频器，工作在上变频，接收第二分频器提供的信号S2和射频输入端提供的输入信号S0，对信号S2和信号S0进行上变频得到信号S3,信号S3的频率为f3=f0+f2；第二混频器，工作在下变频，接收被检测信号S4和第一混频器提供的信号S3，对信号S4和信号S3进行下变频得到信号S5,被检测信号S4的频率为f0，且携带有待检测射频通道的相位信息，信号S5的频率为f5=f3-f0=f2=f0M*2N；N位计数器，接收第一分频器提供的信号S1，并对信号S1到来的周期进行计数，根据计数结果生成信号S6，信号S6由N位的并行信号组成，其计数的总数为2N，计数的范围为0至2N-l；N位边沿触发器接收第二混频器提供的信号S5和N位计数器提供的信号S6，当信号S5上升沿达到时，将当前收到的信号S6锁定，并作为信号S7即相位检测结果输出。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 相位检测装置、相位自校准方法及相控阵单片集成电路
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