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申请/专利权人：湖南毂梁微电子有限公司
摘要：本发明公开了一种ADC芯片接触电阻测试方法、增益误差校准方法及校准电路，该接触电阻测试方法包括：给ADC芯片输入一个模拟电压Vin，按照正常的测试流程得到ADC芯片的输出第一转换结果Dout1；新增一路电流Ib从节点Vx流出，重新启动ADC转换，并读取ADC芯片输出第二转换结果Dout2；通过ADC芯片输出的第二转换结果Dout2、第一转换结果Dout1来判断测试座弹簧针与芯片管脚的接触电阻大小。该增益误差校准方法基于上述接触电阻测试方法来实施。该电路用来实施上述方法。本发明具有原理简单、实用方便、能够大幅提高检测精确度等优点。
主权项：1.一种ADC芯片接触电阻测试方法，其特征在于，包括：给ADC芯片输入一个模拟电压Vin，按照正常的测试流程得到ADC芯片的输出第一转换结果Dout1；新增一路电流Ib从节点Vx流出，重新启动ADC转换，并读取ADC芯片输出第二转换结果Dout2;通过ADC芯片输出的第二转换结果Dout2、第一转换结果Dout1来判断测试座弹簧针与芯片管脚的接触电阻大小；在判断出存在接触电阻之后，通过第一转换结果Dout1与第二转换结果Dout2来计算接触电阻的大小；如果Rx=0，则Vx=Vin；如果Rx≠0，Vx会变成： 接触电阻Rx通过上面的的两个等式求出来如下： ，其中，为校准用电流。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湖南毂梁微电子有限公司 ADC芯片接触电阻测试方法、增益误差校准方法及校准电路
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