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一种可调节地表基质剖面取样装置 

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申请/专利权人:中国地质调查局牡丹江自然资源综合调查中心

摘要:本发明公开了一种可调节地表基质剖面取样装置,属于地质科学领域。该装置包括:工作台,所述工作台中心设有开口;水平仪,两个所述水平仪设于所述工作台相邻的两侧,用于监测所述工作台水平度;升降机构,所述升降机构设于所述工作台上;驱动机构,所述驱动机构设于所述升降机构上,所述升降机构用于带动所述驱动机构调整所述驱动机构与地表基质的距离,所述开口用于供所述驱动机构通过;取样机构,所述取样机构与所述驱动机构相连,所述驱动机构用于带动所述取样机构插入地表基质进行取样。本发明具有节省操作人员体力,且效率更高的优点。

主权项:1.一种可调节地表基质剖面取样装置,其特征在于,所述装置包括:工作台,所述工作台中心设有开口;水平仪,两个所述水平仪设于所述工作台相邻的两侧,用于监测所述工作台的水平度;升降机构,所述升降机构设于所述工作台上;驱动机构,所述驱动机构设于所述升降机构上,所述升降机构用于带动所述驱动机构调整所述驱动机构与地表基质的距离,所述开口用于供所述驱动机构通过;取样机构,所述取样机构与所述驱动机构相连,所述驱动机构用于带动所述取样机构插入地表基质进行取样。

全文数据:

权利要求:

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