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申请/专利权人：武汉恩达通科技有限公司
摘要：本发明公开了一种用于光模块的MT‑FA测试结构及方法，其包括第一直线位移单元和第二直线位移单元，第一直线位移单元和第二直线位移单元均沿X轴向延伸布置，第一直线位移单元和第二直线位移单元沿Y轴向平行间隔布置，第一直线位移单元设置有光电探测器单元，第二直线位移单元上设置有用于固定光纤阵列组件的第一固定单元和用于固定MT连接头与MPO测试跳线的第二固定单元，第一固定单元可沿Y轴向位移的连接于直线位移单元上，第二固定单元固接于连接于直线位移单元上，光电探测器单元和第一固定单元一一对应布置。本发明能够提高MT‑FA的测试效率、保持测试MT‑FA的一致性，极大促进了MT‑FA大规模生产的质量与效率提升。
主权项：1.一种用于光模块的MT-FA测试结构，其特征在于，包括第一直线位移单元和第二直线位移单元，第一直线位移单元和第二直线位移单元均沿X轴向延伸布置，第一直线位移单元和第二直线位移单元沿Y轴向平行间隔布置，第一直线位移单元设置有光电探测器单元，第二直线位移单元上设置有用于固定光纤阵列组件的第一固定单元和用于固定MT连接头与MPO测试跳线的第二固定单元，所述第一固定单元可沿Y轴向位移的连接于所述第二直线位移单元上，所述第二固定单元固接于连接于所述第二直线位移单元上，所述光电探测器单元和所述第一固定单元一一对应布置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉恩达通科技有限公司 一种用于光模块的MT-FA测试结构及方法
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