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申请/专利权人：西门子股份公司
摘要：本发明涉及一种用于基于参考生产线200的装置参数P20，…，P40对电子生产线201进行参数化的方法。电子生产线200，201分别至少具有：用于将接合材料施加到一个或多个组件载体PCB上的装置20，用于将电子组件装配到组件载体PCB上的装配装置30，用于将电子组件接合到组件载体PCB的接合装置40，以及运输系统250，该运输系统被设计为将组件载体PCB运输通过装置20，30，40。为了简化多个生产线上的生产量的与地点无关的扩展，该方法包括步骤：基于参考生产线201的装置参数P20，…，P40对电子生产线201的装置20，…，40进行参数化；确定已参数化的电子生产线201的运输系统250周围的限定区域h中的实际过程参数值ACT；确定实际过程参数值ACT和参考过程参数值REF之间的偏差DEV，其中，已经在参考生产线200的运输系统250周围的限定区域h中采集参考过程参数值REF。本发明还涉及一种用于生产一系列电子组件100的方法以及一种电子生产线200，201。
主权项：1.一种用于基于参考生产线200的装置参数P20，…，P40对电子生产线201进行参数化的方法，其中，所述电子生产线200，201分别至少具有：-用于将接合材料施加到一个或多个组件载体PCB上的装置20，-装配装置30，所述装配装置用于将电子组件装配到所述组件载体PCB上，-接合装置40，所述接合装置用于将所述电子组件接合到所述组件载体PCB，以及-运输系统250，所述运输系统被设计为将所述组件载体PCB运输通过所述装置20，30，40，所述方法包括步骤：-基于所述参考生产线201的装置参数P20，…，P40对所述电子生产线201的装置20，…，40进行参数化，-确定已参数化的电子生产线201的运输系统250周围的限定区域h中的实际过程参数值ACT，-确定所述实际过程参数值ACT和参考过程参数值REF之间的偏差DEV，其中，已经在所述参考生产线200的运输系统250周围的限定区域h中采集所述参考过程参数值REF。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西门子股份公司 对电子生产线进行参数化
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