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利用双晶超声传感器辅助触发涡流涂层测厚方法及其装置 

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申请/专利权人:爱德森(厦门)电子有限公司

摘要:本发明一种利用双晶超声传感器辅助触发涡流涂层测厚方法,利用双晶超声传感器辅助触发涡流涂层测厚传感器开启检测厚度的工作,来用于带有防腐涂覆层11的钢基材器件1的成品、生产过程中或者修复过程中的表面涂层厚度的非接触式无损检测装置,其特征在于所述检测探头部分3为方形结构,所述成对收发的超声晶片方形相对设置,相对发射和接收相应超声信号,当多组超声晶片的反射点集中在成对收发的超声晶片正下方时,判定仪器探头检测面与涂层表面平行,才触发开启涡流测厚传感器的工作模式。通过当双晶超声传感器检测离检测面的距离Da等于设定值D0时,才触发涡流测厚传感器开启工作,实现了将超声辅助涡流进行钢基材涂覆层的快速检测的目的。

主权项:1.一种利用双晶超声传感器辅助触发涡流涂层测厚方法,其特征在于利用双晶超声传感器辅助触发涡流涂层测厚传感器开启检测厚度的工作,具体方法步骤如下:a.超声监测:开启检测装置,设定检测探头下表面与涂层检测面之间的距离值D0,双晶超声传感器一直处于检测探头下表面与涂层检测面之间的距离值Da的状态;所述检测探头检测面平行于被检测涂层表面的调节步骤,通过双晶超声传感器的两个成对发射接收的晶片对比分析收发的距离,来判定仪器探头检测面与涂层表面的平行,当超声晶片的反射点在正中点的涡流测厚传感器正下方时,仪器探头检测面与涂层表面平行,才触发开启涡流测厚工作模式;所述的仪器探头检测面与涂层表面平行的调节中,通过平行阵列排列的两组超声晶片,相对的两组组成收发的一对晶片对,每一对晶片对的正中点为涡流测厚传感器形成阵列的一排涡流传感器,当超声晶片的反射点在正中点的涡流测厚传感器正下方时,才触发开启阵列涡流测厚传感器的工作模式;b.涡流测厚:当a步骤中的双晶超声传感器检测到检测探头下表面与涂层检测面之间的距离Da、且当Da=D0时,触发涡流涂层测厚传感器开启工作模式,检测出检测探头下表面与金属层面之间的距离值Db;c.厚度值计算:涂层厚度的计算方法为涡流检测的检测探头下表面与金属层面之间的距离值Db减去超声检测的检测到检测探头下表面与涂层检测面之间的距离Da,即涂层厚度D=Db-Da。

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