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申请/专利权人：贝克顿·迪金森公司
摘要：本公开的方面包括用于对来自样本中具有重叠的荧光光谱的荧光团的光进行光谱解析的方法。根据某些实施例的方法包括利用光探测系统来探测来自样本的光，该样本包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团，并且对来自样本中每个荧光团的光进行光谱解析。在一些实施例中，方法包括估算样本中诸如颗粒上的一个或更多个荧光团的丰度。在某些情况下，方法包括基于每个荧光团的丰度来识别样本中的颗粒，并对颗粒进行分选。根据一些实施例的方法包括通过计算每个荧光团的荧光光谱来计算光谱解混矩阵，从而对来自每个荧光团的光进行光谱解析。还提供了用于实践本主题方法的系统和集成电路设备例如，现场可编程门阵列。
主权项：1.一种方法，包括：利用光探测系统来探测来自样本的光，所述样本包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团；以及通过计算样本中每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵，来对样本中的每个荧光团的光进行光谱解析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 贝克顿·迪金森公司 用于对样本的荧光团进行光谱解析的方法及其系统
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