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申请/专利权人：高通股份有限公司
摘要：能够监测存储器子系统的错误检测和校正EDAC逻辑以进行错误校正，其中该EDAC逻辑被配置为使用第一EDAC级别。能够确定在时间间隔期间当使用该第一EDAC级别时由该EDAC逻辑进行的错误校正的数量。当在该时间间隔期间使用该第一EDAC级别的该错误校正的数量超过阈值时，该EDAC逻辑能够从使用该第一EDAC级别切换到使用第二EDAC级别。
主权项：1.一种用于自适应存储器错误检测和校正EDAC的方法，包括：监测存储器子系统的EDAC逻辑以进行错误校正，其中所述EDAC逻辑被配置为使用第一EDAC级别；确定在第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的错误校正的数量；确定在所述第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的所述错误校正的数量是否超过第一阈值；以及当在所述第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的所述错误校正的数量超过所述第一阈值时，将所述EDAC逻辑从使用所述第一EDAC级别切换到使用第二EDAC级别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 高通股份有限公司 自适应存储器错误检测和校正
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