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申请/专利权人：广州市易鸿智能装备股份有限公司

摘要：本发明涉及一种极片裁切纠偏方法、装置和系统。本发明的极片裁切纠偏方法，包括步骤：S1，在模切之前，获取A面图像和B面图像；S2，根据所述B面图像，计算模切偏移量；S3，根据所述A面图像和B面图像，计算分切偏移量；S4，将所述模切偏移量和分切偏移量传输至纠偏器；所述纠偏器在模切之前根据所述模切偏移量移动极片，在分切之前根据所述分切偏移量移动极片。本发明以总膜宽满足工艺要求为优先目标，允许极宽在工艺要求范围内有偏差，以较低的成本有效提高了极片裁切的良品率，减小了资源浪费。

主权项：1.一种极片裁切纠偏方法，其特征在于，包括步骤：S1，在模切之前，获取A面图像和B面图像；S2，根据所述B面图像，计算模切偏移量；S3，根据所述A面图像和B面图像，计算分切偏移量；S4，将所述模切偏移量和分切偏移量传输至纠偏器；所述纠偏器在模切之前根据所述模切偏移量移动极片，在分切之前根据所述分切偏移量移动极片；其中，所述步骤S2，具体包括：S21，根据所述B面图像，计算B面左陶瓷宽和B面右陶瓷宽；S22，根据所述B面左陶瓷宽和B面右陶瓷宽，计算模切偏移量；所述模切偏移量PB与所述B面左陶瓷宽BC1和B面右陶瓷宽BC2的关系为： 其中，所述步骤S3，具体包括：S31，根据所述A面图像，计算A面左陶瓷宽、A面右陶瓷宽、A面左膜宽和A面右膜宽；根据所述B面图像，计算B面左膜宽和B面右膜宽；S32，根据所述A面左陶瓷宽和A面左膜宽，计算左极宽；根据所述A面右陶瓷宽和A面右膜宽，计算右极宽；根据所述A面左膜宽和B面左膜宽，计算左膜宽；根据所述A面右膜宽和B面右膜宽，计算右膜宽；S33，根据所述左膜宽和右膜宽，计算初步分切偏移量；S34，根据所述初步分切偏移量、模切偏移量、左极宽和右极宽，计算分切偏移量；其中，所述左极宽W1，与所述A面左陶瓷宽AC1和A面左膜宽AF1的关系为：W1＝AC1+AF1；所述右极宽W2，与所述A面右陶瓷宽AC2和A面右膜宽AF2的关系为：W2＝AC2+AF2；所述左膜宽F1，与所述A面左膜宽AF1和B面左膜宽BF1的关系为：F1＝AF1+BF1；所述右膜宽F2，与所述A面右膜宽AF2和B面右膜宽BF2的关系为：F2＝AF2+BF2；所述初步分切偏移量P'，与所述左膜宽F1和右膜宽F2的关系为：其中，所述步骤S34，具体包括：S341，判断所述初步分切偏移量是否大于或等于0；当所述初步分切偏移量大于或等于0时，所述步骤S34还包括步骤：S3420，若所述初步分切偏移量大于或等于0，则进一步判断所述左极宽是否大于或等于所述右极宽；S3421，若所述左极宽大于或等于所述右极宽，则所述分切偏移量PA的计算公式为：式中P'表示所述初步分切偏移量，PB表示所述模切偏移量；其中，当所述初步分切偏移量大于或等于0时，所述步骤S34还包括步骤：S3422，若所述左极宽小于所述右极宽，则进一步判断所述左极宽W1是否大于极宽规格下限LSL、所述右极宽是否小于极宽规格上限USL；若所述左极宽大于极宽规格下限LSL、且所述右极宽小于极宽规格上限USL，则所述分切偏移量PA的计算公式为：式中P'表示所述初步分切偏移量，PB表示所述模切偏移量；若所述左极宽小于或等于极宽规格下限LSL、或所述右极宽大于或等于极宽规格上限USL，则所述分切偏移量PA的计算公式为：式中P'表示所述初步分切偏移量，PB表示所述模切偏移量。

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