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申请/专利权人：河北工业大学
摘要：一种双光源独立对中的激光粒度仪，包括两个独立光路，检测激光器2发射的激光经扩束准直镜组3照射在颗粒样品10上，散射光经接收透镜4由光电探测器阵列6接收，入射平行光经接收透镜4会聚在光电二极管5，该第一独立光路用于测量颗粒散射信号；对中激光器1发射激光经对中透镜9会聚在四象限探测器7，该第二独立光路用于对中。光电探测器阵列6和四象限探测器7安装在同一块电路板8，可整体移动，在光电探测器阵列6中心和电路板8对应位置各开一个小孔，在小孔后安装光电二极管5。根据四象限探测器7的光斑位置移动电路板8，当该光斑位于四象限探测器7中心时，同时光电二极管5信号最大，完成对中操作，然后可测量颗粒样品10的粒度分布。
主权项：1.一种双光源独立对中的激光粒度仪，包括：对中激光器1、检测激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电二极管5、光电探测器阵列6、四象限探测器7、电路板8、对中透镜9，其中，包括两个独立光路，由检测激光器2发射的激光经扩束准直镜组3后成为入射平行光，照射在颗粒样品10上，颗粒样品10的散射光经接收透镜4后由光电探测器阵列6接收，且入射平行光经接收透镜4后会聚会聚在光电二极管5上，构成第一个独立光路，用于测量颗粒散射信号；由对中激光器1发射的激光经对中透镜9照射在四象限探测器7上，构成第二个独立光路，用于整个光路系统对中，光电探测器阵列6和四象限探测器7安装在同一块电路板8上，可整体移动，电路板8位于接收透镜4和对中透镜9的焦平面位置。
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百度查询： 河北工业大学 一种双光源独立对中的激光粒度仪
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