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摘要:本发明公开了一种电子元件高温测试平台,包括供热平台本体,以及固定安装于供热平台本体顶部的高温测试箱体;所述供热平台本体的内部中心位置处通过轴承转动设置有送风转扇;还包括:所述高温测试箱体的内部左右两侧均固定安装有驱动齿盘,且左右两侧驱动齿盘的内部中心位置处均转动设置有驱动齿轮;其中,高温测试箱体的顶部固定安装有驱动箱体,且驱动箱体的内部中心位置处通过轴承转动设置有驱动蜗杆。该电子元件高温测试平台,通过高温测试箱体带动排布的电子元件进行定位,并由多个方向的供热机构实现全方位的高温制热,并在检测结束之后达到快速降温制冷的效果,防止热量流失提升检测效果。
主权项:1.一种电子元件高温测试平台,包括供热平台本体1,以及固定安装于供热平台本体1顶部的高温测试箱体2,且供热平台本体1的正面中心位置处固定安装有输送风机3;所述供热平台本体1的内部中心位置处通过轴承转动设置有送风转扇4,且供热平台本体1的内部底面左右两侧开设有用于通风排气的排风导槽5;其特征在于,还包括:所述高温测试箱体2的内部左右两侧均固定安装有驱动齿盘6,且左右两侧驱动齿盘6的内部中心位置处均转动设置有驱动齿轮7,并且左右两侧驱动齿盘6的内部前后两侧均转动设置有导向齿轮8;其中,高温测试箱体2的顶部固定安装有驱动箱体9,且驱动箱体9的内部中心位置处通过轴承转动设置有驱动蜗杆10。
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