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摘要：本发明公开了一种WKα1材料深度梯度衍射分析控制方法和系统，方法包括以下步骤：控制X射线源发射WKα1特征的入射光束；控制置有样品容器的机械运动台沿入射光束的垂直方向移动，同时对应接收能量分辨探测器探测的衍射光束的衍射强度数据，所述入射光束和衍射光束具有一定角度；控制机械运动台移动至所述衍射强度数据最大时的最优检测深度位置。本发明将机械运动台移动至衍射强度数据最大时的最优检测深度位置，当次材料衍射分析得到的数据是能够得到的最准确的数据，尤其是针对于高原子序数样本对X射线吸收能量强的情况下。
主权项：1.一种WKα1材料深度梯度衍射分析控制方法，其特征在于：包括以下步骤：控制X射线源发射WKα1特征的入射光束；控制置有样品容器的机械运动台沿入射光束的垂直方向移动，同时对应接收能量分辨探测器探测的衍射光束的衍射强度数据，所述入射光束和衍射光束具有一定角度；控制机械运动台移动至所述衍射强度数据最大时的最优检测深度位置。
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百度查询： 中国工程物理研究院材料研究所 一种WKα1材料深度梯度衍射分析控制方法和系统
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