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摘要：本发明涉及半导体探针技术领域，且公开了一种半导体探针测试台用探针及其使用方法，包括动力机构，所述动力机构还包括有滑动轨道，在电动伸缩杆向下按压时，电动伸缩杆通过拉扯板将设备外壳向下推动，此时设备外壳携带拉扯圆板与感应柱向下移动，在接收器与半导体接触时，复位弹簧与受压弹簧将吸收设备外壳所产生的多余下移的力，使得接收器由传统的硬接触优化为弹性接触，设备外壳上移时，设备外壳通过复位弹簧携带拉扯圆板与感应柱向上移动，在清洁杆远离滚轮的一端沿着感应柱的外壁进行移动时，接收器的底部将受清洁杆的挤压，并最终形成如图所示的状态，通过上述组件的应用，实现对接收器的自清洁。
主权项：1.一种半导体探针测试台用探针，包括动力机构1，所述动力机构1还包括有滑动轨道101，所述滑动轨道101的侧壁处固定连接有滑动板102，所述滑动轨道101的顶部固定连接有固定板103，其特征在于，还包括：清洁机构2，所述清洁机构2包括固定连接在滑动轨道101侧壁处的固定柱201，所述固定柱201远离滑动轨道101的一端固定连接有清洁底座202，所述清洁底座202侧壁通孔内壁处滑动连接有清洁杆203；清除机构3，所述清除机构3包括滑动连接在滑动板102内壁处的控制支架301，所述控制支架301的底部固定连接有挤压杆302，所述挤压杆302远离控制支架301的一端转动连接有翘板303。
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百度查询： 浙江日拓电子股份有限公司 一种半导体探针测试台用探针及其使用方法
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