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基因检测用电化学基因芯片测试方法 

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摘要:本发明涉及基因检测技术领域,具体为基因检测用电化学基因芯片测试方法,所述测试设备包括:一号防护板,所述一号防护板底部开设有防呆引导槽,所述防呆引导槽内活动安装有测量仪本体;防护机构,设置在所述一号防护板上且与所述测量仪本体连接,所述一号防护板上还设置有与所述防护机构连接的二号防护板;高度锁定组件,设置在所述一号防护板上且与所述二号防护板连接,所述二号防护板上还设置有与所述高度锁定组件连接的锁止机构,所述锁止机构能够通过所述高度锁定组件限制所述二号防护板移动;解锁组件,设置在所述二号防护板上且与所述锁止机构连接;限位机构,设置在所述一号防护板上且与所述高度锁定组件和所述测量仪本体连接。

主权项:1.基因检测用电化学基因芯片测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:对基因样本进行取样,并对所需样品进行稀释;步骤二:将稀释后的样品与芯片杂交,并在杂交完成后,对芯片进行清洗;步骤三:清洗后的芯片添加入测试设备内,在测试设备的作用下,对样品进行检测,同时,在测试设备的作用下,还可防止外界的干扰,以确保检测结果的准确性;步骤四:当检测完成后,可对数字化信号进行分析,并对分析结果进行比对,以得到具体的检测结果。

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