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申请/专利权人：宁波江丰电子材料股份有限公司
申请日：2024-09-27
公开（公告）日：2024-12-13
公开（公告）号：CN119124783A
专利技术分类：.测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J37/20）[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种氧化锆陶瓷待测样品及其制备方法和应用，所述制备方法包括如下步骤：1氧化锆陶瓷样品依次经研磨和抛光，得到前处理氧化锆陶瓷样品；2步骤1所述前处理氧化锆陶瓷样品经加热腐蚀，得到能够显现微观组织的氧化锆陶瓷待测样品。本发明能够得到表面平整光滑、晶粒晶界轮廓清晰的氧化锆陶瓷，腐蚀工艺更加稳定可控，陶瓷表面微观结构和组织清晰地凸显出来，避免了现有热腐蚀以及化学腐蚀技术可能对氧化锆陶瓷表面造成的损伤、腐蚀效果模糊不清晰等问题，从而提高了晶粒晶相结果观察的准确性。
专利权项：1.一种用于检测微观组织的氧化锆陶瓷待测样品的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括如下步骤：1氧化锆陶瓷样品依次经研磨和抛光，得到前处理氧化锆陶瓷样品；2步骤1所述前处理氧化锆陶瓷样品经加热腐蚀，得到能够显现微观组织的氧化锆陶瓷待测样品。
百度查询： 宁波江丰电子材料股份有限公司 一种氧化锆陶瓷待测样品及其制备方法和应用
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