龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
申请日：2014-03-28
公开（公告）日：2014-08-27
公开（公告）号：CN203800037U
专利技术分类：.加到半导体器件上的标志，例如注册商标、测试图案[2006.01]
专利摘要：本实用新型揭示了一种可靠性测试结构，该测试结构包括衬底，所述衬底中包括有源区结构；栅极结构，所述栅极结构位于所述衬底上，并横跨于所述有源区结构之上，所述栅极结构与所述有源区结构呈十字排列。本实用新型的测试结构能节约晶圆的面积，减少测试次数。
专利权项：一种可靠性测试结构，其特征在于，包括： 衬底，所述衬底中包括有源区结构； 栅极结构，所述栅极结构位于所述衬底上，并横跨于所述有源区结构之上，所述栅极结构与所述有源区结构呈十字排列。
百度查询： 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 可靠性测试结构
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号