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申请/专利权人:北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
申请日:2011-10-25
公开(公告)日:2012-02-29
公开(公告)号:CN102364300A
专利技术分类:.用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直[2006.01]
专利摘要:本发明提供一种适用于小于1°的工作角,满足小角度计量仪器的校准和小角度检测的小角度角度块。其包括固定在安装底板上方的角度块基座,在角度块基座的同一侧面上加工有上下间隔布局的两个安装面,在上安装面内安装有上反射镜,在下安装面内安装有下反射镜;在上反射镜和下反射镜前方设置一个透射折光镜,透射折光镜也固定在安装底板上方。本发明所述的小角度角度块结构新颖,安装方便,性能稳定,准确度高,测量重复性好,角度值容易复现,其用于光学小角度测量仪器的测量和校准,可以有效避免测量面转换过程中光轴对中的问题,降低角度块安装复杂性。
专利权项:一种小角度角度块,其特征在于:该小角度角度块包括固定在安装底板3上方的角度块基座4,在角度块基座4的同一侧面上加工有上下间隔布局的两个安装面,在上安装面内安装有上反射镜5,在下安装面内安装有下反射镜6;在上反射镜5和下反射镜6前方设置一个透射折光镜7,透射折光镜7也固定在安装底板3上方;所述的角度块基座4上的下安装面与角度块基座4的底面垂直;所述的角度块基座4上的上安装面与角度块基座4的底面垂直、且与角度块基座4的下安装面加工出‑1°~+1°角度;此时上安装面和下安装面在角度块基座4的底面投影夹角即为该角度块工作角,角度范围为‑1°~+1°;所述的透射折光镜7由上下两块棱镜胶合而成,上下两块棱镜胶合面处涂有半透射半反射膜;其中,上棱镜为平行棱镜,上棱镜通光口与上反射镜5相对正;下棱镜为三棱镜,下棱镜通光口与下反射镜6相对正。
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