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申请/专利权人：青海民族大学

摘要：本发明公开了一种MMIC温度特性测试方法，包括MMIC直流温度特性测试、MMIC小信号温度特性测试、MMIC大信号温度特性测试、MMIC线性度温度特性测试以及测试结果与仿真结果匹配。本发明核心是采用温度实验箱、直流电源、矢量网络分析仪、信号产生器和频谱仪实现MMIC温度特性测试，该核心仪器具有测试小信号温度参数和大信号温度参数的能力，还具有表征线性度温度映射能力。相比于其他传统的测试技术，该技术具有精确度高、可操作性强的优势。本发明可以有效测试MMIC温度特性，为MMIC电路的温度特性测试提供重要参考。

主权项：1.一种MMIC温度特性测试方法，包括MMIC直流温度特性测试、MMIC小信号温度特性测试、MMIC大信号温度特性测试、MMIC线性度温度特性测试以及测试结果与仿真结果匹配；所述MMIC直流温度特性测试采用温度实验箱和直流电源，在测试时，逐步增大MMIC的漏源电压和栅源电压直至达到预设值，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC漏源电流与漏源电压、栅源电压的映射关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC直流特性的第一比较结果；所述MMIC小信号温度特性测试采用温度实验箱、直流电源和矢量网络分析仪，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，工作模式选择Line，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC小信号增益、输出回波损耗、输入回波损耗与频率的映射关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC小信号特性的第一比较结果；所述MMIC大信号温度特性测试采用温度实验箱、直流电源、矢量网络分析仪、驱动放大器和衰减器，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，工作模式选择Power，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC输出功率、增益、功率附加效率与输入功率的变化关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC大信号特性第一比较结果；所述MMIC线性度温度特性测试采用温度实验箱、直流电源、矢量信号产生器、频谱仪、驱动放大器、衰减器和功率合成器，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC线性度与频率的变化关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC线性度的第一比较结果；所述测试结果与仿真结果匹配时确认MMIC所有的第一比较结果正确，所述MMIC合格，测试方法有效。

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