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申请/专利权人：奇捷科技(深圳)有限公司
摘要：本发明公开了一种基于设计文件对比获取ECO点的方法，用于芯片设计中改版设计与原始设计差异点ECO的查找，该方法包括：对比原始设计的原版GTECH文件和改版设计的改版GTECH文件，找到关键点信息；根据所述关键点信息，对电路的元件组成和连接进行分析比对，找到差异ECO点；本发明的方法在不依赖商业LEC工具的同时，大大缩短了ECO点的获取时间。
主权项：1.一种基于设计文件对比来获取ECO点的方法，用于芯片设计中改版设计与原始设计差异点ECO的查找，其特征在于，所述方法不使用LEC工具，而是采用GTECH文件进行对比；所述GTECH文件是指逻辑综合过程中生成的netlist，所述netlist没有任何优化，层次结构和RTL完全对应；所述方法包括以下步骤：步骤S1，找到原始设计对应的原版GTECH文件和改版设计对应的改版GTECH文件；步骤S2，对比原版GTECH文件和改版GTECH文件，找到关键点信息；所述关键点信息至少包括：新增或删除的关键元件，参数变化影响时序或功耗的元件，以及逻辑功能发生变化的部分；步骤S3，根据所述关键点信息，对电路的元件组成和连接进行分析比对，找出差异点ECO；所述对电路的元件组成和连接进行分析比对是指：根据所述关键点信息对原始设计和改版设计的电路功能进行比较；分析原始设计和改版设计的整体电路架构和功能描述；对比原始设计和改版设计中各元件的连接关系和信号流；检查是否有新增或删除的元件连接，以及是否存在连接关系的变更；将存在差异的关键点信息标记为差异点ECO。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 奇捷科技(深圳)有限公司 一种基于设计文件对比来获取ECO点的方法
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