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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
摘要：本发明提供了一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法和装置、量子计算机、可读存储介质，所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。本发明的技术方案能够确定在目标频率位置是否会引发量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离这些会引发量子信息泄露的频率位置。
主权项：1.一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1态的第二保真度，获取所述第一保真度与获取所述第二保真度的方法相同，所述时间长度用以使所述待测量子比特能够与芯片工艺产生的微观缺陷发生相互作用耦合；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置
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