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申请/专利权人：内蒙古工业大学
摘要：本发明公开了一种定量分析聚酰胺薄膜复合膜表面羟基官能团含量的方法，属于膜材料表面分析技术领域，通过XPS分析聚酰胺薄膜复合膜表面的O1s信号峰，并对其进行拟合，能够计算出膜表面羟基官能团的含量。该发明首先对待测膜表面的XPS表征结果进行参数拟合，随后经过分析优化，得出特征峰峰面积，进而通过计算确定膜表面羟基官能团的含量。本发明示例的定量分析聚酰胺薄膜复合膜表面羟基官能团含量的方法，基于XPS技术进行定量分析，解决了目前无法直接对聚酰胺薄膜复合膜表面的羟基官能团进行定量分析的难题，从而弥补了现有技术不足，为改性膜表面官能团表征领域开辟了一种独特的表征和研究方法。
主权项：1.定量分析聚酰胺薄膜复合膜表面羟基官能团含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将待测样品的膜片按照XPS测试要求进行处理，之后对待测样品活性层表面进行XPS分析，采集所需元素全谱与窄谱数据；S2：利用XPS分析软件对数据进行碳校核，之后对O1sXPS谱图进行分峰拟合，得到529.83eV、531.12eV、533.15eV和532.05eV四个特征峰，在聚酰胺薄膜复合膜的O1sXPS谱图中，533.15eV处酯键的峰面积定义为SO＝C-OR，532.05eV处未反应羟基的峰面积定义为SC-O；S3：聚酰胺薄膜复合膜表面所有羟基包括未反应的羟基C-O和已经发生反应的羟基O＝C-OR，为了从聚酰胺薄膜复合膜O1sXPS拟合谱图中得到聚酰胺薄膜复合膜表面未反应羟基官能团含量，定义M-OH，未反应为膜表面未反应的羟基C-O所占的比例，即M-OH，未反应就是未反应的羟基数量nC-O占未反应羟基和发生反应羟基总数nC-O+nO＝C-OR的百分比，即：M-OH，未反应＝A×nC-OnC-O+nO＝C-OR＝A×SC-OSC-O+SO＝C-OR；其中，n为摩尔数，S为峰面积，A为公倍数，是指参与界面聚合反应的原料中分子结构式中所含有的羟基官能团个数，A聚酰胺薄膜复合膜＝1。
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