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申请/专利权人：万润科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种积层陶瓷电容瑕疵检查方法及设备，该积层陶瓷电容瑕疵检查方法包括：提供积层陶瓷电容作为待测元件置于一测试板上表面的一座槽，并位于一第一上端子及一第一探针之间形成回路；在对该积层陶瓷电容进行充电的该回路上，检查电压上升或下降的过程，在充电的电压时间的座标曲线图中，是否有瞬间不在同一斜率的线上的异常讯号，如有，定义其为检知到该积层陶瓷电容内部存在裂痕的瑕疵的讯号；借此以低成本的电子回路检查积层陶瓷电容内部瑕疵。
主权项：1.一种积层陶瓷电容瑕疵检查方法，包括：提供一机台，其上设有一机台台面；提供一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，该测试板上设有多个座槽，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该检查单元设有一第一检查单元，该第一检查单元设有一第一上端子及一第一探针；其特征在于：提供积层陶瓷电容作为待测元件置于该测试板上表面的该座槽，并位于该第一上端子及该第一探针之间形成回路；在对该积层陶瓷电容进行充电的该回路上，检查电压上升或下降的过程，在充电的电压时间的座标曲线图中，是否有瞬间不在同一斜率的线上的异常讯号，如有，定义其为检知到该积层陶瓷电容内部存在裂痕的瑕疵的讯号。
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百度查询： 万润科技股份有限公司 积层陶瓷电容瑕疵检查方法及设备
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