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申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司
摘要：本发明公开了一种针对RCD芯片中寄存器的验证系统。为降低验证工作量和测试遗漏风险，本发明针对RCD芯片中寄存器的验证系统，至少包括验证环境层和待测试设计模块，验证环境层至少包括寄存器抽象层、寄存器访问模块、边带命令代理模块、CAB命令代理模块和DRAM命令代理模块；待测试设计模块包括边带接口、CAB接口和DRAM接口；边带命令代理模块和边带接口建立连接，CAB命令代理模块和CAB接口建立连接，DRAM命令代理模块和DRAM接口建立连接；寄存器访问模块与寄存器抽象层建立数据通路，寄存器访问模块还接收DRAM命令代理模块中的监视器从DRAM接口中采集和回传的MRW命令。本发明提高了验证效率和可靠性，实现不同配置通路之间的交叉验证。本发明适于芯片测试领域。
主权项：1.一种针对RCD芯片中寄存器的验证系统，至少包括验证环境层和待测试设计模块，其特征在于：所述验证环境层至少包括寄存器抽象层、寄存器访问模块、边带命令代理模块、CAB命令代理模块和DRAM命令代理模块；所述待测试设计模块包括边带接口、CAB接口和DRAM接口；所述边带命令代理模块和所述边带接口建立连接，所述CAB命令代理模块和所述CAB接口建立连接，所述DRAM命令代理模块和所述DRAM接口建立连接；并且，所述寄存器访问模块与所述寄存器抽象层建立数据通路，所述寄存器访问模块还接收DRAM命令代理模块中的监视器从所述DRAM接口中采集和回传的MRW命令。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 针对RCD芯片中寄存器的验证系统
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