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申请/专利权人：深圳市华力宇电子科技有限公司
摘要：本申请涉及芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质。本申请通过预先编写的测试程序对晶圆进行测试，可以快速、自动地获取晶圆的测试数据和MAP图，减少了人工干预，提高了测试效率；根据测试数据动态生成测试参数范围，并根据测试参数范围对MAP图进行更新，能够更准确地反映晶圆上每个芯片的性能和缺陷情况，从而基于更新后的MAP图对晶圆上的芯片进行筛选时，能够确保筛选出的芯片符合预定的性能和质量要求，提高了筛选准确性，为大规模生产中的芯片质量控制提供了有力的支持。
主权项：1.一种芯片测试筛选方法，其特征在于，所述方法包括：使用预先编写的测试程序对晶圆进行测试，得到所述晶圆的测试数据与MAP图；根据所述测试数据生成测试参数范围；根据所述测试参数范围对所述MAP图进行更新；根据更新后的MAP图对所述晶圆上的芯片进行筛选。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市华力宇电子科技有限公司 芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质
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