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申请/专利权人：上海感图网络科技有限公司
摘要：本申请公开Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片检测领域，显示Pcs缺陷复检界面，并从MES系统获取电测不良的Pcs编号信息；响应于接收到对Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于电测不良的Pcs编号信息确定物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；响应于接收到对目标缺陷Pcs的选择操作，根据目标缺陷Pcs是否为电测不良，在缺陷展示区内显示电测不良信息或目标缺陷图像。该方案可以结合电测不良信息对Pcs进行缺陷检测，选择性的过滤电测不良Pcs的缺陷检测，提高整体复检效率。
主权项：1.一种Pcs电测不良缺陷显示方法，其特征在于，所述方法包括：显示Pcs颗粒缺陷复检界面，并从制造执行系统MES中获取电测不良的Pcs编号信息；Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于所述电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海感图网络科技有限公司 Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质
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