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申请/专利权人：开元华创科技(集团)有限公司
摘要：本发明公开了基于上位竞争的模糊测试方法及平台，涉及数据处理技术领域，包括：获取目标组件；对目标组件的测试记录进行筛选，得到目标历史测试异常记录；引入用例有效性评估函数作为用例评估策略，建立用例寻优空间；在预定测试环境中对通过全局寻优得到的目标用例进行模糊测试，得到目标测试记录；对比目标预测异常与分析目标测试记录得到的目标测试异常，得到目标对比偏差；目标对比偏差处于偏差限值时，将分析目标测试异常得到的目标缺陷作为目标组件的缺陷；组建目标系统的系统缺陷集，建立目标系统的缺陷修复预案。本发明解决现有技术测试效率低下，难以有效覆盖软件的所有关键路径的技术问题，达到提高测试覆盖率和测试效率的技术效果。
主权项：1.基于上位竞争的模糊测试方法，其特征在于，包括：获取目标组件，其中，所述目标组件是指目标系统中符合处理执行限定约束的任意一个系统组件；对所述目标组件的目标历史测试记录进行筛选，得到目标历史测试异常记录；引入用例有效性评估函数作为用例评估策略，将所述目标历史测试异常记录作为用例寻优空间；在预定测试环境中对基于所述用例评估策略在所述用例寻优空间中进行全局寻优得到的目标用例进行模糊测试，得到目标测试记录，其中，所述目标用例具备目标预测异常的标识；对比所述目标预测异常与分析所述目标测试记录得到的目标测试异常，得到目标对比偏差；当所述目标对比偏差处于偏差限值时，将分析所述目标测试异常得到的目标缺陷作为所述目标组件的缺陷；基于所述目标缺陷组建所述目标系统的系统缺陷集，并分析所述系统缺陷集建立所述目标系统的缺陷修复预案。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 开元华创科技(集团)有限公司 基于上位竞争的模糊测试方法及平台
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