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申请/专利权人：联芸科技(杭州)股份有限公司
摘要：本公开提供一种存储器中坏块的筛选方法、相关装置及介质。该方法包括：获取存储器的多个重读电压表，将存储器的读电压设置为默认读电压，对存储器中多个块并行执行全盘读取操作，确定多个块中的标记块，标记块为在一次读取操作中出现的错误比特数超过预设阈值的块，在标记块的个数不为0的情况下，逐个使用多个重读电压表将存储器的读电压设置为对应的重读电压，以执行多轮读取重试操作，在当前轮读取重试操作中对上一轮读取重试操作所确定的上一轮标记块执行读取重试操作，以确定当前轮标记块，在当前轮标记块的个数不为0且多个重读电压表均已被使用来执行读取重试操作的情况下，将当前轮标记块确定为存储器中的坏块，这降低了RDT时间。
主权项：1.一种存储器中坏块的筛选方法，包括：获取存储器的多个重读电压表，所述存储器包括多个块；将所述存储器的读电压设置为默认读电压，对所述多个块并行执行全盘读取操作，确定所述多个块中的标记块，其中所述标记块为在一次读取操作中出现的错误比特数超过预设阈值的块；在所述标记块的个数不为0的情况下，逐个使用所述多个重读电压表将所述存储器的读电压设置为对应的重读电压，以执行多轮读取重试操作，其中，在当前轮读取重试操作中对上一轮读取重试操作所确定的上一轮的所述标记块执行读取重试操作，以确定当前轮的所述标记块；在当前轮的所述标记块的个数不为0且所述多个重读电压表均已被使用来执行读取重试操作的情况下，将当前轮的所述标记块确定为所述存储器中的坏块。
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百度查询： 联芸科技(杭州)股份有限公司 存储器中坏块的筛选方法、相关装置及介质
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