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PCIe硬核调试测试方法及装置 

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申请/专利权人:上海安路信息科技股份有限公司

摘要:本发明提供一种PCIe硬核调试测试方法及装置,包括:编写测试代码、测试场景清单和数据源文件;根据测试场景清单启动测试代码以进行仿真测试;获取仿真测试结果,并与预设标准仿真结果进行对比,以得到仿真测试报告;利用数据源文件进行上板测试;获取上板测试结果,并与预设标准上板结果进行对比,以得到上板测试报告。通过测试场景清单启动测试代码以进行仿真测试,使得在更换测试场景后无需手动修改属性的宏定义值;通过在仿真测试和上板测试后自动将测试结果与标准结果进行对比,使得无需人工对测试结果进行校验,从而在降低人工作业量的同时,有效提高了PCIe硬核调试测试的效率和准确性,解决了现有PCIe硬核调试测试工作量大、效率低的问题。

主权项:1.一种PCIe硬核调试测试方法,其特征在于,包括:编写测试代码、测试场景清单和数据源文件;根据测试场景清单启动测试代码以进行仿真测试;获取仿真测试结果,并与预设标准仿真结果进行对比,以得到仿真测试报告;利用数据源文件进行上板测试;获取上板测试结果,并与预设标准上板结果进行对比,以得到上板测试报告。

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权利要求:

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