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申请/专利权人：深圳市鼎泰佳创科技有限公司

摘要：本申请公开了一种电源的老化测试系统及方法，该系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统，能够提升电源的老化测试的测试效率，并且降低成本。

主权项：1.一种电源的老化测试系统，其特征在于，包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试；其中，将多个待测产品按照行、列分布组成一个第一矩阵；根据所述待测产品的电源输出路数，对第一矩阵进行分解，以基于所述待测产品的电源输出路数组成多个所述矩阵，使得待测产品的每一路电源输出都能够形成串联，每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接；所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出，基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联，形成N路串联输出回路；基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。

全文数据：电源的老化测试系统及方法技术领域本发明涉及产品老化测试领域，尤其涉及一种电源的老化测试系统及方法。背景技术老化测试是指产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，例如通过仿真出高温、高恶劣条件下的测试环境对电源进行长时间烧机，以提高产品安全性、稳定性和可靠性。在通过老化测试柜或老化测试房对待测产品进行批量老化测试时，针对不同数量的多路输出大于或等于两路输出的电源，传统的老化测试系统如图1和图2所示。其中，图1所示的老化测试系统对多个电源的输出采用并联的连接方式，产品的每一路输出配置一个升压模块，将每一路输出的升压至一个指定电压，然后通过逆变器将电压回馈至电网。图2所示的老化测试系统对多个电源的输出采用串联的连接方式，将多个电源中功率较大的一路输出串联，由于串联起来后每路输出的负极是不同的，因此其余输出只能采用隔离式电子负载或电阻负载来进行老化测试。但是，图1所示的老化测试系统中的每一个输出均需要一路升压模块，成本较高，而且升压至指定电压的效率较低，配线比较复杂；图2所示的老化测试系统中，只有主路输出才能串联起来，其余的输出只能采用隔离式模块进行老化测试，同样存在效率低的问题，并且需要的隔离模块较多，成本较高。发明内容本发明实施例提供一种电源的老化测试系统及方法，能够提升电源的老化测试的测试效率，并且降低成本。一种电源的老化测试系统，包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。可选的，在其中一个实施例中，基于所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接。可选的，在其中一个实施例中，所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出，基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联，形成N路串联输出回路；基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。可选的，在其中一个实施例中，所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出和第三路电源输出，所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q；所述p*q矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成p路串联输出回路；所述p*q矩阵中每一列的所述待测产品的电源输出依次串联，形成q路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；基于所述待测产品的三路电源输出形成M+N*p+q路串联输出回路。可选的，在其中一个实施例中，所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出、第三路电源输出和第四路电源输出；所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q；所述m*n矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成m路串联输出回路，所述m*n矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成n路串联输出回路，所述m*n矩阵共有M层；所述p*q矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成p路串联输出回路，所述p*q矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成q路串联输出回路，所述p*q矩阵共有N层；基于所述待测产品的四路电源输出形成M*m+n+N*p+q路串联输出回路。可选的，在其中一个实施例中，每个所述一路串联输出回路分别与不同的老化测试负载电连接。可选的，在其中一个实施例中，同一个所述老化测试负载电连接的不同串联输出回路之间在电气上隔离。一种电源的老化测试方法，应用于老化测试系统，所述系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述方法包括：将所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵；将所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路，将所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路；将每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。可选的，在其中一个实施例中，所述方法还包括：根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵。可选的，在其中一个实施例中，所述根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，包括：当所述待测产品具有两路电源输出时，根据所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；当所述待测产品具有三路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q；当所述待测产品具有四路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，根据所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q。实施本发明实施例，将具有如下有益效果：上述电源的老化测试系统及方法，通过对多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，将矩阵中每一行的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，将矩阵中每一列的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统，对多个待测产品的电源输出采用了串联的方式进行老化测试，减少了老化测试负载的回路数量，降低了采用升压模块及隔离模块的硬件成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1为传统的老化测试系统中采用的并联方式的连接示意图；图2为传统的老化测试系统中采用的串联方式的连接示意图；图3为一个实施例中电源的老化测试系统中的待测产品的连接示意图；图4为一个实施例中具有两路输出的待测产品的连接示意图；图5为一个实施例中待测产品形成的第一矩阵的连接示意图；图6为一个实施例中具有三路输出的待测产品的连接示意图；图7为一个实施例中具有四路输出的待测产品的连接示意图；图8为一个实施例中电源的老化测试方法的流程图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本申请。可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一元件称为第二元件，且类似地，可将第二元件称为第一元件。第一元件和第二元件两者都是元器件，但其不是同一元器件。以下提供一种电源的老化测试系统，该系统包括测试装置，该测试装置可以是老化测试柜或老化测试房，在测试装置上设置有多个待测产品，每个待测产品包括至少两路电源输出。如图3所示，为一个实施例中电源的老化测试系统中的待测产品的连接示意图。电源的老化测试系统中的多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，该矩阵中每一行的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，该矩阵中每一列的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。具体的，可以将老化测试柜或老化测试房均分成几层，在每一层放置多个待测产品，以形成几行几列的矩阵分布。如图3中将第一行4个待测产品的一路电源输出串联起来，得到一路串联输出回路，再将第一行第一个待测产品的另一路电源输出与第一列的其他待测产品另一路电源输出串联，得到一路串联输出回路，4行待测产品中有4路串联输出回路，4列待测产品中有4路串联输出回路，总共有8路串联输出回路。也即在本实施例的电源的老化测试系统中，16个具有两路电源输出的待测产品，仅需要将8路串联输出回路分别与老化测试负载电连接，即可形成对所有待测产品的老化测试。通过本实施例提供的电源的老化测试系统，对多个待测产品的电源输出采用了串联的方式进行老化测试，减少了老化测试负载的回路数量，降低了采用升压模块及隔离模块的硬件成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。在一个实施例中，基于所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接。具体的，可以将需要进行老化测试的待测产品按照行、列分布组成一个第一矩阵，然后根据待测产品的电源输出路数，对第一矩阵进行分解，以组成多个矩阵，使得待测产品的每一路电源输出都能够形成串联。每个矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对每一路串联输出回路的老化测试。举例说明，当待测产品具有三路电源输出时，可以对第一矩阵的行或列进行分解，将第一矩阵的行或列分解为m*nm、n≥2行小矩阵；当待测产品具有四路电源输出时，对第一矩阵的行和列同时进行分解，将第一矩阵的行分解为m*nm、n≥2行小矩阵，将第一矩阵的列分解为p*qp、q≥2列小矩阵。图4为一个实施例中具有两路输出的待测产品的连接示意图，待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出，基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2。该M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；该M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联，形成N路串联输出回路。基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。具体的，如图4所示，以16个具有两路输出的待测产品为例，将16个产品按照4行4列组成4*4矩阵。将同一行待测产品的第一路输出串联起来，得到一路串联输出回路，因此4行共有4路行串联输出回路；将同一列产品的第二路输出串联起来，得到一路串联输出回路，因此4列共4路串联输出回路，这样16个待测产品共有8路串联电压，减少了输出回路的数量，降低了测试成本，并且有效避免了待测产品在采用串联方式进行测试的短路问题。在一个实施例中，待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出和第三路电源输出，也即待测产品具有三路电源输出。则在老化测试系统中针对该待测产品的老化测试，可以根据待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q。p*q矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成p路串联输出回路；p*q矩阵中每一列的所述待测产品的电源输出依次串联，形成q路串联输出回路；M*N矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；基于所述待测产品的三路电源输出形成M+N*p+q路串联输出回路。具体的，以64个具有三路输出的待测产品为例，如图5所示，将老化测试柜中的待测产品按照行、列组成4*16的第一矩阵。按照两路电源输出的待测产品的原理，将同一列中待测产品的电源输出直接串联，得到一路串联输出回路，因此第一矩阵中16列共有16路串联输出回路。进一步的，如图6所示，将每一行的16个待测产品再分解为4*4小矩阵，将4*4小矩阵中同一行待测产品的电压输出串联，得到一个串联输出回路，因此4行共有4路串联输出回路；再将4*4小矩阵中同一列产品的电压输出串联，得到一个串联输出回路，因此4列共有4路串联输出回路；故第一矩阵中每一行的4*4小矩阵，共得到8路串联输出回路，4个4*4的小矩阵，共得到4*8＝32路串联输出回路，再加上16列的16路串联输出回路，因此共有48路串联输出回路。64个具有三路输出的待测产品共有192路输出，经过本实施例提供的老化测试系统中的串联方式后只有48路输出，大大减少了老化测试负载的回路数量，降低了测试成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。在一个实施例中，待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出、第三路电源输出和第四路电源输出，也即待测产品具有四路电源输出。则在老化测试系统中针对该待测产品的老化测试，可以根据待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，根据待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q。在m*n矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成m路串联输出回路，在m*n矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成n路串联输出回路，m*n矩阵共有M层。在p*q矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成p路串联输出回路，在p*q矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成q路串联输出回路，p*q矩阵共有N层。基于该待测产品的四路电源输出形成M*m+n+N*p+q路串联输出回路。具体的，与具有三路电源输出的待测产品的原理类似，以64个具有四路输出的待测产品为例，将老化测试柜中的待测产品按照行、列组成4*16的第一矩阵，如图5所示。然后再将每一行的16个产品再分解为4*4小矩阵，如图6所示，共4行，故有4个4*4的行小矩阵，共得到4*8＝32路串联输出回路。再将每一列分解为2*2小矩阵，如图7所示，共16列，故有16个2*2的列小矩阵，共得到16*4＝64路串联输出回路，因此共有96路串联输出回路。而64个具有四路输出的待测产品共有256路输出，经过本实施例提供的老化测试系统中的串联方式后只有96路输出，大大减少了老化测试负载的回路数量，降低了测试成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。可以理解的是，以此类推，在其他实施例中，待测产品还可以具有更多路电源输出，例如具有五路电源输出、六路电源输出等，与上述实施例中具有多路电源输出的待测产品的连接原理类似，本申请提供的电源的老化测试系统可以通过对多个待测产品的电源输出采用串联的方式进行老化测试，降低测试成本，提升测试效率。在一个实施例中，每个所述一路串联输出回路分别与不同的老化测试负载电连接。在一个实施例中，同一个所述老化测试负载电连接的不同串联输出回路之间在电气上隔离。本申请实施例提供的电源的老化测试系统，通过对多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，将矩阵中每一行的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，将矩阵中每一列的待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统，对多个待测产品的电源输出采用了串联的方式进行老化测试，减少了老化测试负载的回路数量，降低了采用升压模块及隔离模块的硬件成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。基于相同的发明构思，以下提供一种电源的老化测试方法，该方法应用于老化测试系统，所述系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出。如图8所示，该电源的老化测试方法包括以下步骤802～步骤806：步骤802：将所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵。步骤804：将所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路，将所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路。步骤806：将每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。在一个实施例中，该电源的老化测试方法还包括：根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵。可选的，所述根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，包括：当所述待测产品具有两路电源输出时，根据所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；当所述待测产品具有三路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q；当所述待测产品具有四路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，根据所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q。上述电源的老化测试方法，对多个待测产品的电源输出采用了串联的方式进行老化测试，减少了老化测试负载的回路数量，降低了采用升压模块及隔离模块的硬件成本，并且有效避免了因为串联导致的产品输出短路问题，提升了电源的老化测试的测试效率。以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

权利要求：1.一种电源的老化测试系统，其特征在于，包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，基于所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出，基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联，形成N路串联输出回路；基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出和第三路电源输出，所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q；所述p*q矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成p路串联输出回路；所述p*q矩阵中每一列的所述待测产品的电源输出依次串联，形成q路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；基于所述待测产品的三路电源输出形成M+N*p+q路串联输出回路。5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出、第三路电源输出和第四路电源输出；所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q；所述m*n矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成m路串联输出回路，所述m*n矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成n路串联输出回路，所述m*n矩阵共有M层；所述p*q矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成p路串联输出回路，所述p*q矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成q路串联输出回路，所述p*q矩阵共有N层；基于所述待测产品的四路电源输出形成M*m+n+N*p+q路串联输出回路。6.根据权利要求1-5任一项所述的系统，其特征在于，每个所述一路串联输出回路分别与不同的老化测试负载电连接。7.根据权利要求1-5任一项所述的系统，其特征在于，同一个所述老化测试负载电连接的不同串联输出回路之间在电气上隔离。8.一种电源的老化测试方法，其特征在于，应用于老化测试系统，所述系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述方法包括：将所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵；将所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路，将所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联，以形成一路串联输出回路；将每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，包括：当所述待测产品具有两路电源输出时，根据所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；当所述待测产品具有三路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，MN＝p*q；当所述待测产品具有四路电源输出时，根据所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，根据所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵，根据所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，n、m≥2，p、q≥2，N＝m*n，M＝p*q。

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